Definisi Difraksi sinar-X (XRD)
Difraksi sinar-X (XRD) adalah teknik non-destruktif untuk menganalisis struktur bahan kristalin atau semi-kristalin, namun XRD dapat juga untuk mempelajari bahan non-kristalin.
Teknik XRD bergantung pada berkas sinar-X yang memiliki panjang gelombang pada skala ±1Å. Ketika berkas tersebut terhambur dari suatu bahan dengan struktur atom/molekul pada skala tersebut, akan terjadi interferensi yang menghasilkan pola dengan intensitas berbeda. Secara kualitatif serupa dengan pola warna-warni yang dihasilkan oleh gelembung sabun – warna berbeda terlihat dari arah berbeda.
XRD sangat berbeda dari radiografi sinar-X, atau tomografi yang bergantung pada fakta bahwa sinar-X diserap lebih kuat oleh beberapa bahan daripada yang lain, contohnya: tulang atau tumor menyerap lebih dari otot atau lemak, sehingga gambar yang ditransmisikan memberikan gambar langsung dari struktur di dalam tubuh atau objek dalam skala milimeter atau lebih. Sebaliknya, XRD menghasilkan pola difraksi yang tidak menyerupai struktur yang mendasarinya, dan memberikan informasi tentang struktur internal pada skala 1 hingga 100 Å.
0 comments